检测分析电动偏光显微

简介 ：

蔡司Axio Imager 2 Pol

科研级偏光显微镜

程序简便，操作可靠

您是否正在寻找一款能够可靠地进行检测分析、获得高质量检测结果且简便易用的显微镜？智能Axio Imager偏光显微镜堪称是您的理想选择。

该系列显微镜有编码型、部分电动型或全电动型可供选择，满足您的个性化需求。

自动识别组件，让您事半功倍

借助自动组件识别（ACR）功能，使您能够始终方便地使用显微镜设置。所有电动主机架能够自动识别物镜。此外，ACR还能在全电动主机架中识别反射光模块。Axio Imager能自动对组件的变换进行记录。

无振动设计确保长时间成像的可靠性

借助Axio Imager出色的稳定性得以实现可随时间变化的测量和高放大倍率观察，物镜转盘、z轴升降台和载物台被设计为一个紧凑式无振动单元，独立于主机架的其余部分。这种“稳定单元”结构设计为获得高质量的检测结果创造了理想的测量条件。

功能丰富，操作舒适

l  简化复杂的程序。通过主机架或外置工作站上的触摸屏来控制所有电动化组件。

l  保存个性化设置，一键即可轻松还原设置。聚焦操作方便直观 – 符合人体工程学设计的触控式按钮。

l  或者，通过任意摆放的控制面板（可与主机架分离）来操作偏光显微镜系统。观察方式和光路管理器能够自动选择理想设置，以生成可重复且可靠的观测结果

锥镜检查：使用偏光显微镜可以实现快速可靠的晶体结构分析

使用偏光显微镜能够同时采集无畸变的和锥光的图像信息。借助特别设计的Pol以及额外的中间像平面，可以同时看到物体、十字线和光圈。通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至10μm 的晶体粒度。预先居中的Bertrand光学可以轻松打开和关闭。这一特性让您即使在捕获图像或使用视频设备时，也可以在各种之间快速切换。

一致的测量性能

l  借助可360°刻度和0.1°游标的旋转、载物台可以轻松实现测量（例如：用于测量矿物的解理角）。

l  光程差测定或应变测量

具有固定光程差的补偿器

l  全波片λ

l  四分之一波片λ/4

l  全波片λ，可旋转+/- 8°

大量光谱补偿器可选，涵盖从0至30λ的测量范围。

具有可变光程差的补偿器

n  光楔补偿器0-4λ

n  测量补偿器

u  Berek倾斜补偿器0-5λ

u  Berek倾斜补偿器0-30λ

Axio Imager可应用于更多方法，例如：

l  热显微分析

l  使用蔡司ZEN Core软件进行数字分析（例如，使用晶粒度分析或颗粒度分析）